泰納克實驗設(shè)備發(fā)生故障的原因一般可歸納為以下3類:
(1)儀器設(shè)備外部因素不正常所引起的故障;
?。?/font>2)人為的操作使用過程不當(dāng)引起的故障;
?。?/font>3)儀器設(shè)備自身內(nèi)部某些元件質(zhì)量缺陷引起的故障。
泰納克實驗設(shè)備外部因素不正常引起的設(shè)備故障這類故障主要由于實驗室環(huán)境溫度、濕度不適宜,供電電壓不穩(wěn),外部電磁場以及儀器受震動而引起的。在溫度過高、濕度過大、通風(fēng)不良等環(huán)境條件下,設(shè)備運(yùn)行過程中某些元件會過熱,甚至燒毀,電路板會氧化、遭腐蝕損壞,電路短路以及導(dǎo)電性灰塵吸潮也能夠直接燒壞元件。操作不當(dāng)或麻痹大意引起故障如果操作者在實驗過程中操作不當(dāng),致使一些液體流入儀器內(nèi)部的電路板或元件上,會發(fā)生化學(xué)腐蝕和電化學(xué)腐蝕,使儀器受損。有的儀器設(shè)備在開機(jī)后須預(yù)熱一段時間方可使用,而有的儀器設(shè)備在開機(jī)后須按要求進(jìn)行調(diào)整、校正參數(shù)才能使用。如果儀器發(fā)生故障前的征兆沒能引起使用者注意,極有可能造成儀器損壞。這些人為操作不當(dāng)出現(xiàn)的故障應(yīng)引起管理者足夠重視。儀器設(shè)備質(zhì)量問題引起的故障碳膜電位器,多圈電位器或機(jī)械零部件因磨損、氧化或接觸不良能夠造成儀器設(shè)備的故障;儀器設(shè)備所使用的元器件性能不佳,例如,半導(dǎo)體器件、集成電路、電阻、電容等性能不穩(wěn)定也會引發(fā)故障;